WAGNER, Walter Sebastian; PLANO, Miguel Angel; CISANA, Joaquín; DIMAIO, Bruno; PISSIA, Martín
DESCRIPCIÓN: Este trabajo se centra en medir la relación entre la tensión de ruptura de los dispositivos electrónicos de juntura y uno de los efectos capacitivos presentes en ellos.
Palabras Clave: física electrónica, junturas, semiconductores, efectos capacitivos, mediciones electrónicas
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